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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Why does the World Need a True Triaxial Tester?

    Beteiligte:

    Janssen, R. (Autor:in) / Verwijs, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    PARTICLE AND PARTICLE SYSTEMS CHARACTERIZATION ; 24 ; 108-112

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0934-0866

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.43

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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