Finite element modeling of stress variation in multilayer thin-film specimens for in situ transmission electron microscopy experiments: Fid-Bau Portal

Finite element modeling of stress variation in multilayer thin-film specimens for in situ transmission electron microscopy experiments

Mei, H. / An, J. H. / Huang, R. / Ferreira, P. J.

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Titel:

Finite element modeling of stress variation in multilayer thin-film specimens for in situ transmission electron microscopy experiments

Beteiligte:

Mei, H. (Autor:in) / An, J. H. (Autor:in) / Huang, R. (Autor:in) / Ferreira, P. J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 22 ; 2737-2741

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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