Transmission electron microscopy microstructural characterization of Ti-Si-C-N coatings: Fid-Bau Portal

Transmission electron microscopy microstructural characterization of Ti-Si-C-N coatings

Guo, Y. / Ma, S. / Xu, K. / Bell, T. / Li, X. / Dong, H.

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Titel:

Transmission electron microscopy microstructural characterization of Ti-Si-C-N coatings

Beteiligte:

Guo, Y. (Autor:in) / Ma, S. (Autor:in) / Xu, K. (Autor:in) / Bell, T. (Autor:in) / Li, X. (Autor:in) / Dong, H. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 23 ; 198-203

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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