A refined Ehrlich-Schwoebel effect on the modification of Si surface nanostructures by post ion milling: Fid-Bau Portal

A refined Ehrlich-Schwoebel effect on the modification of Si surface nanostructures by post ion milling

Zhou, J. / Fan, W. b. / Chen, W. b. / Zhao, Y. y. / Lu, M.

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Titel:

A refined Ehrlich-Schwoebel effect on the modification of Si surface nanostructures by post ion milling

Beteiligte:

Zhou, J. (Autor:in) / Fan, W. b. (Autor:in) / Chen, W. b. (Autor:in) / Zhao, Y. y. (Autor:in) / Lu, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 2238-2243

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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