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Statistical Process Monitoring System for SMT Industry Using Automatic Optical Inspection System

Kim, H.Y. / Han, S.S. / Hong, S.B. / Hong, S.J.

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Titel:

Statistical Process Monitoring System for SMT Industry Using Automatic Optical Inspection System

Beteiligte:

Kim, H.Y. (Autor:in) / Han, S.S. (Autor:in) / Hong, S.B. (Autor:in) / Hong, S.J. (Autor:in) / Lee, C. / Lee, J.-B. / Park, D.-H. / Na, S.-J.

Erschienen in:

Advanced Welding and Micro Joining / Packaging for the 21st Century ; 561-564

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 580/582

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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