Compact Displacement Measurement System Based on Microchip Nd:YAG Laser with Birefringence External Cavity: Fid-Bau Portal

Compact Displacement Measurement System Based on Microchip Nd:YAG Laser with Birefringence External Cavity

Tan, Y. / Zhang, S.

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Titel:

Compact Displacement Measurement System Based on Microchip Nd:YAG Laser with Birefringence External Cavity

Beteiligte:

Tan, Y. (Autor:in) / Zhang, S. (Autor:in) / Gao, W. / Takaya, Y. / Gao, Y. / Krystek, M.

Erschienen in:

Measurement Technology and Intelligent Instruments VIII ; 39-42

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 381/382

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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