Refractive Index and Thickness Determinations Using a Dual-Path Mach-Zehnder Interferometer: Fid-Bau Portal

Refractive Index and Thickness Determinations Using a Dual-Path Mach-Zehnder Interferometer

Lin, S.T. / Lin, T.L.

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Titel:

Refractive Index and Thickness Determinations Using a Dual-Path Mach-Zehnder Interferometer

Beteiligte:

Lin, S.T. (Autor:in) / Lin, T.L. (Autor:in) / Gao, W. / Takaya, Y. / Gao, Y. / Krystek, M.

Erschienen in:

Measurement Technology and Intelligent Instruments VIII ; 97-100

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 381/382

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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