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Analysis of Critical Damage of Thin Plate Subjected to Contact Explosions

Wang, S. / Zhang, J. / Shi, X.H.

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Titel:

Analysis of Critical Damage of Thin Plate Subjected to Contact Explosions

Beteiligte:

Wang, S. (Autor:in) / Zhang, J. (Autor:in) / Shi, X.H. (Autor:in)

Erschienen in:

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 385/387 ; 45-48

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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