Characterization of semiconductor core-shell nanoparticles by resonant Raman scattering and photoluminescence spectroscopy: Fid-Bau Portal

Characterization of semiconductor core-shell nanoparticles by resonant Raman scattering and photoluminescence spectroscopy

Dzhagan, V. M. / Valakh, M. Y. / Raevskaya, A. E. / Stroyuk, A. L. / Kuchmiy, S. Y. / Zahn, D. R.

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Titel:

Characterization of semiconductor core-shell nanoparticles by resonant Raman scattering and photoluminescence spectroscopy

Beteiligte:

Dzhagan, V. M. (Autor:in) / Valakh, M. Y. (Autor:in) / Raevskaya, A. E. (Autor:in) / Stroyuk, A. L. (Autor:in) / Kuchmiy, S. Y. (Autor:in) / Zahn, D. R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 725-727

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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