Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement: Fid-Bau Portal

Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement

Heile, A. / Lipinsky, D. / Wehbe, N. / Delcorte, A. / Bertrand, P. / Felten, A. / Houssiau, L. / Pireaux, J. J. / De Mondt, R. / Van Vaeck, L.

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Heile, A. / Lipinsky, D. / Wehbe, N. / Delcorte, A. / Bertrand, P. / Felten, A. / Houssiau, L. / Pireaux, J. J. / De Mondt, R. / Van Vaeck, L.

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Heile, A. / Lipinsky, D. / Wehbe, N. / Delcorte, A. / Bertrand, P. / Felten, A. / Houssiau, L. / Pireaux, J. J. / De Mondt, R. / Van Vaeck, L.

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Titel:

Metal-assisted SIMS and cluster ion bombardment for ion yield enhancement

Beteiligte:

Heile, A. (Autor:in) / Lipinsky, D. (Autor:in) / Wehbe, N. (Autor:in) / Delcorte, A. (Autor:in) / Bertrand, P. (Autor:in) / Felten, A. (Autor:in) / Houssiau, L. (Autor:in) / Pireaux, J. J. (Autor:in) / De Mondt, R. (Autor:in) / Van Vaeck, L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 941-943

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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