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ToF-SIMS study of official seals from Han Dynasty

Yin, Y. S. / Chen, B. J. / Ling, Y. C.

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Titel:

ToF-SIMS study of official seals from Han Dynasty

Beteiligte:

Yin, Y. S. (Autor:in) / Chen, B. J. (Autor:in) / Ling, Y. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1534-1537

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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