Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Post-annealing modification in structural properties of ZnO thin films on p-type Si substrate deposited by evaporation

    Neue Suche nach: Asghar, M.
    Neue Suche nach: Noor, H.
    Neue Suche nach: Awan, M. S.
    Neue Suche nach: Naseem, S.
    Neue Suche nach: Hasan, M. A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Post-annealing modification in structural properties of ZnO thin films on p-type Si substrate deposited by evaporation

    Neue Suche nach: Asghar, M.
    Neue Suche nach: Noor, H.
    Neue Suche nach: Awan, M. S.
    Neue Suche nach: Naseem, S.
    Neue Suche nach: Hasan, M. A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Post-annealing modification in structural properties of ZnO thin films on p-type Si substrate deposited by evaporation

    Neue Suche nach: Asghar, M.
    Neue Suche nach: Noor, H.
    Neue Suche nach: Awan, M. S.
    Neue Suche nach: Naseem, S.
    Neue Suche nach: Hasan, M. A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Post-annealing modification in structural properties of ZnO thin films on p-type Si substrate deposited by evaporation

    Beteiligte:

    Asghar, M. (Autor:in) / Noor, H. (Autor:in) / Awan, M. S. (Autor:in) / Naseem, S. (Autor:in) / Hasan, M. A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 11 ; 30-35

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Annealing effects on the structural and electrical transport properties of n-type Bi2Te2.7Se0.3 thin films deposited by flash evaporation

    Duan, X. / Jiang, Y. | British Library Online Contents | 2010

    Influence of substrate temperature and post deposition annealing on the properties of vacuum deposited ZnSe thin films

    Rao, K.G. / Bangera, K.V. / Shivakumar, G.K. | British Library Online Contents | 2013

    Influence of annealing temperature on the properties of ZnO thin films deposited by thermal evaporation

    Bouhssira, N. / Abed, S. / Tomasella, E. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Optimization of annealing conditions of In2S3 thin films deposited by vacuum thermal evaporation

    Timoumi, A. / Bouzouita, H. / Brini, R. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Substrate temperature dependence of structural, morphological and optical properties of Sn4Sb6S13 thin films deposited by vacuum thermal evaporation

    Harizi, A. / Ben Rabeh, M. / Laatar, F. et al. | British Library Online Contents | 2016

    Nach oben