Roughness and structural motifs on the Si(103) surface: Fid-Bau Portal

Roughness and structural motifs on the Si(103) surface

Ciobanu, C. V. / Jariwala, B. N. / Davies, T. E. / Agarwal, S.

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Titel:

Roughness and structural motifs on the Si(103) surface

Beteiligte:

Ciobanu, C. V. (Autor:in) / Jariwala, B. N. (Autor:in) / Davies, T. E. (Autor:in) / Agarwal, S. (Autor:in)

Erschienen in:

COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE ; 45 ; 150-157

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0927-0256

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 510

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