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Computed Tomography Metrology in Industrial Research and Development

Kasperl, S. / Hiller, J. / Krumm, M.

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Titel:

Computed Tomography Metrology in Industrial Research and Development

Beteiligte:

Kasperl, S. (Autor:in) / Hiller, J. (Autor:in) / Krumm, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALPRUFUNG ; 51 ; 405-411

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0025-5300

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620

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