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    Titel:

    Thickness effects of Bi3.5Nd0.5Ti3O12 buffer layers on structure and electrical properties of BiFeO3 films

    Beteiligte:

    Chen, X. (Autor:in) / Hu, G. (Autor:in) / Wang, X. (Autor:in) / Yan, J. (Autor:in) / Yang, C. (Autor:in) / Wu, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 44 ; 3556-3560

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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