Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers: Fid-Bau Portal

Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers

Larson, D.J. / Cerezo, A. / Juraszek, J. / Hono, K. / Schmitz, G.

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Titel:

Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers

Beteiligte:

Larson, D.J. (Autor:in) / Cerezo, A. (Autor:in) / Juraszek, J. (Autor:in) / Hono, K. (Autor:in) / Schmitz, G. (Autor:in)

Erschienen in:

MRS BULLETIN- MATERIALS RESEARCH SOCIETY ; 34 ; 732-737

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0883-7694

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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