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X-ray photoelectron study of annealed Co thin film on Si surface

Sharma, A. / Tripathi, S. / Shripathi, T.

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Titel:

X-ray photoelectron study of annealed Co thin film on Si surface

Beteiligte:

Sharma, A. (Autor:in) / Tripathi, S. (Autor:in) / Shripathi, T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 530-535

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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