Rietveld X-ray diffraction analysis of nanostructured rutile films of titania prepared by pulsed laser deposition: Fid-Bau Portal

Rietveld X-ray diffraction analysis of nanostructured rutile films of titania prepared by pulsed laser deposition

Murugesan, S. / Kuppusami, P. / Mohandas, E.

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Titel:

Rietveld X-ray diffraction analysis of nanostructured rutile films of titania prepared by pulsed laser deposition

Beteiligte:

Murugesan, S. (Autor:in) / Kuppusami, P. (Autor:in) / Mohandas, E. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS RESEARCH BULLETIN ; 45 ; 6-9

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0025-5408

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11 / 620

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