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    Titel:

    Three-dimensional Electrical Property Mapping with Nanometer Resolution

    Beteiligte:

    Alekseev, A. (Autor:in) / Efimov, A. (Autor:in) / Lu, K. (Autor:in) / Loos, J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 21 ; 4915-4919

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0935-9648

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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