Investigation of boundary migration during grain growth in fully recrystallised high purity nickel: Fid-Bau Portal

Investigation of boundary migration during grain growth in fully recrystallised high purity nickel

Zhang, Y.B. / Godfrey, A. / Liu, W. / Liu, Q.

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Titel:

Investigation of boundary migration during grain growth in fully recrystallised high purity nickel

Beteiligte:

Zhang, Y.B. (Autor:in) / Godfrey, A. (Autor:in) / Liu, W. (Autor:in) / Liu, Q. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 26 ; 197-202

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0267-0836

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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