Quality control with matching technology in roll to roll printed electronics: Fid-Bau Portal

Quality control with matching technology in roll to roll printed electronics

Lee, C. / Kang, H. / Kim, H. / Nguyen, H. A. / Shin, K.

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Titel:

Quality control with matching technology in roll to roll printed electronics

Beteiligte:

Lee, C. (Autor:in) / Kang, H. (Autor:in) / Kim, H. (Autor:in) / Nguyen, H. A. (Autor:in) / Shin, K. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 24 ; 315-318

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1738-494X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621

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