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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Precession Electron Diffraction Assisted Orientation Mapping in the Transmission Electron Microscope

    Beteiligte:

    Portillo, J. (Autor:in) / Rauch, E.F. (Autor:in) / Nicolopoulos, S. (Autor:in) / Gemmi, M. (Autor:in) / Bultreys, D. (Autor:in) / Ponce, A. / Bueno, D.

    Erschienen in:

    Advanced Electron Microscopy and Nanomaterials Selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT'09), Saltillo (Coahuila) Mexico, September 29th-October 2nd, 2009 ; 1-8

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 644

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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