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    Titel:

    Compositional characterization of nickel silicides by HAADF-STEM imaging

    Beteiligte:

    Verleysen, E. (Autor:in) / Bender, H. (Autor:in) / Richard, O. (Autor:in) / Schryvers, D. (Autor:in) / Vandervorst, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 46 ; 2001-2008

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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