Magnetic Compton Profile Measurement of Thin Films: Fid-Bau Portal

Magnetic Compton Profile Measurement of Thin Films

Nishino, H. / Yamaki, R. / Itou, M. / Sakurai, Y. / Sakurai, H. / Ito, M.

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Titel:

Magnetic Compton Profile Measurement of Thin Films

Beteiligte:

Nishino, H. (Autor:in) / Yamaki, R. (Autor:in) / Itou, M. (Autor:in) / Sakurai, Y. (Autor:in) / Sakurai, H. (Autor:in) / Ito, M. (Autor:in) / Hanaizumi, O. / Unno, M.

Erschienen in:

Silicon Science and Advanced Micro-Device Engineering I ; 11-14

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 459

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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