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RTS Noise of CMOS Technology

Chvatal, M. / Pavelka, J. / Sedlakova, V. / Trcka, T. / Skarvada, P.

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Titel:

RTS Noise of CMOS Technology

Beteiligte:

Chvatal, M. (Autor:in) / Pavelka, J. (Autor:in) / Sedlakova, V. (Autor:in) / Trcka, T. (Autor:in) / Skarvada, P. (Autor:in) / Sandera, P.

Erschienen in:

Materials Structure & Micromechanics of Fracture ; 334-337

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 465

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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