Atomically Resolved Mapping of Polarization and Electric Fields Across Ferroelectric/Oxide Interfaces by Z-contrast Imaging: Fid-Bau Portal

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Atomically Resolved Mapping of Polarization and Electric Fields Across Ferroelectric/Oxide Interfaces by Z-contrast Imaging

Chang, H. J. / Kalinin, S. V. / Morozovska, A. N. / Huijben, M. / Chu, Y. H. / Yu, P. / Ramesh, R. / Eliseev, E. A. / Svechnikov, G. S. / Pennycook, S. J.

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Titel:

Atomically Resolved Mapping of Polarization and Electric Fields Across Ferroelectric/Oxide Interfaces by Z-contrast Imaging

Beteiligte:

Chang, H. J. (Autor:in) / Kalinin, S. V. (Autor:in) / Morozovska, A. N. (Autor:in) / Huijben, M. (Autor:in) / Chu, Y. H. (Autor:in) / Yu, P. (Autor:in) / Ramesh, R. (Autor:in) / Eliseev, E. A. (Autor:in) / Svechnikov, G. S. (Autor:in) / Pennycook, S. J. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 23 ; 2474-2479

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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