Minority Carrier Lifetimes and Surface Effects in VLS-Grown Axial p-n Junction Silicon Nanowires: Fid-Bau Portal

Minority Carrier Lifetimes and Surface Effects in VLS-Grown Axial p-n Junction Silicon Nanowires

Jung, Y. / Vacic, A. / Perea, D. E. / Picraux, S. T. / Reed, M. A.

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Titel:

Minority Carrier Lifetimes and Surface Effects in VLS-Grown Axial p-n Junction Silicon Nanowires

Beteiligte:

Jung, Y. (Autor:in) / Vacic, A. (Autor:in) / Perea, D. E. (Autor:in) / Picraux, S. T. (Autor:in) / Reed, M. A. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 23 ; 4306-4311

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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