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Three dimensional imaging using secondary ion mass spectrometry and atomic force microscopy

Fleming, Y. / Wirtz, T. / Gysin, U. / Glatzel, T. / Wegmann, U. / Meyer, E. / Maier, U. / Rychen, J.

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Titel:

Three dimensional imaging using secondary ion mass spectrometry and atomic force microscopy

Beteiligte:

Fleming, Y. (Autor:in) / Wirtz, T. (Autor:in) / Gysin, U. (Autor:in) / Glatzel, T. (Autor:in) / Wegmann, U. (Autor:in) / Meyer, E. (Autor:in) / Maier, U. (Autor:in) / Rychen, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 1322-1327

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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