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    Titel:

    Modeling validity of femtosecond laser breakdown in wide bandgap dielectrics

    Beteiligte:

    Jing, X. (Autor:in) / Tian, Y. (Autor:in) / Zhang, J. (Autor:in) / Chen, S. (Autor:in) / Jin, Y. (Autor:in) / Shao, J. (Autor:in) / Fan, Z. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 4741-4749

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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