S-Band Polarimetric Radar Scattering Measurement from Different Random Rough Surface: Fid-Bau Portal

S-Band Polarimetric Radar Scattering Measurement from Different Random Rough Surface

Jia, M.Q. / Tong, L. / Chen, Y. / Lu, H.P.

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Titel:

S-Band Polarimetric Radar Scattering Measurement from Different Random Rough Surface

Beteiligte:

Jia, M.Q. (Autor:in) / Tong, L. (Autor:in) / Chen, Y. (Autor:in) / Lu, H.P. (Autor:in) / Wang, D.

Erschienen in:

Advanced Materials in Microwaves and Optics ; 416-421

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 500

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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