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Microstructure and stray electric fields at surface cracks in ferroelectrics

Yang, L. / Dayal, K.

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Titel:

Microstructure and stray electric fields at surface cracks in ferroelectrics

Beteiligte:

Yang, L. (Autor:in) / Dayal, K. (Autor:in)

Erschienen in:

INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE ; 174 ; 17-27

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0376-9429

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1126

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