Wide band-gap investigation of modulated BeZnO layers via photocurrent measurement: Fid-Bau Portal

Wide band-gap investigation of modulated BeZnO layers via photocurrent measurement

Yu, J. H. / Kim, J. H. / Yang, H. J. / Kim, T. S. / Jeong, T. S. / Youn, C. J. / Hong, K. J.

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Titel:

Wide band-gap investigation of modulated BeZnO layers via photocurrent measurement

Beteiligte:

Yu, J. H. (Autor:in) / Kim, J. H. (Autor:in) / Yang, H. J. (Autor:in) / Kim, T. S. (Autor:in) / Jeong, T. S. (Autor:in) / Youn, C. J. (Autor:in) / Hong, K. J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 47 ; 5529-5534

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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