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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Analysis of Lattice Distortion in Multicrystalline Silicon for Photovoltaic Cells by Synchrotron White X-Ray Microbeam Diffraction

    Beteiligte:

    Shimura, T. (Autor:in) / Matsumiya, T. (Autor:in) / Morimoto, N. (Autor:in) / Hosoi, T. (Autor:in) / Kajiwara, K. (Autor:in) / Chen, J. (Autor:in) / Sekiguchi, T. (Autor:in) / Watanabe, H. (Autor:in) / Yamada-Kaneta, H. / Sakai, A.

    Erschienen in:

    Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV ; 153-156

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 725

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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