The effect of X-ray photoelectron spectroscopy measurement on P(VDF-TrFE) copolymer thin films: Fid-Bau Portal

The effect of X-ray photoelectron spectroscopy measurement on P(VDF-TrFE) copolymer thin films

Mandal, D. / Muller, K. / Henkel, K. / Schmeiszer, D.

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Titel:

The effect of X-ray photoelectron spectroscopy measurement on P(VDF-TrFE) copolymer thin films

Beteiligte:

Mandal, D. (Autor:in) / Muller, K. (Autor:in) / Henkel, K. (Autor:in) / Schmeiszer, D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 261 ; 209-213

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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