The detection of flaws in optoelectronic systems: Fid-Bau Portal

The detection of flaws in optoelectronic systems

Budai, B. T. / Porodnov, V. T. / Myakutina, I. V. / Kasatkin, N. V.

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Titel:

The detection of flaws in optoelectronic systems

Beteiligte:

Budai, B. T. (Autor:in) / Porodnov, V. T. (Autor:in) / Myakutina, I. V. (Autor:in) / Kasatkin, N. V. (Autor:in)

Erschienen in:

RUSSIAN JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING C/C OF DEFEKTOSKOPIIA ; 48 ; 426-435

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

1061-8309

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1127

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