XPS quantification of the hetero-junction interface energy: Fid-Bau Portal

XPS quantification of the hetero-junction interface energy

Ma, Z. S. / Wang, Y. / Huang, Y. L. / Zhou, Z. F. / Zhou, Y. C. / Zheng, W. / Sun, C. Q.

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Titel:

XPS quantification of the hetero-junction interface energy

Beteiligte:

Ma, Z. S. (Autor:in) / Wang, Y. (Autor:in) / Huang, Y. L. (Autor:in) / Zhou, Z. F. (Autor:in) / Zhou, Y. C. (Autor:in) / Zheng, W. (Autor:in) / Sun, C. Q. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 265 ; 71-77

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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