Influence of SiO2 layer thickness on plasmon enhanced upconversion in hybrid Ag/SiO2/NaYF4:Yb, Er, Gd structures: Fid-Bau Portal

Influence of SiO2 layer thickness on plasmon enhanced upconversion in hybrid Ag/SiO2/NaYF4:Yb, Er, Gd structures

Shen, J. / Li, Z. Q. / Chen, Y. R. / Chen, X. H. / Chen, Y. W. / Sun, Z. / Huang, S. M.

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Titel:

Influence of SiO2 layer thickness on plasmon enhanced upconversion in hybrid Ag/SiO2/NaYF4:Yb, Er, Gd structures

Beteiligte:

Shen, J. (Autor:in) / Li, Z. Q. (Autor:in) / Chen, Y. R. (Autor:in) / Chen, X. H. (Autor:in) / Chen, Y. W. (Autor:in) / Sun, Z. (Autor:in) / Huang, S. M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 270 ; 712-717

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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