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    Titel:

    FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate

    Beteiligte:

    Laroche, G. (Autor:in) / Fitremann, J. (Autor:in) / Gherardi, N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 273 ; 632-637

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2013

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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