A Review of the Influential Factors on the Ferroelectric Domain Structure in BiFeO~3 Thin Films: Fid-Bau Portal

A Review of the Influential Factors on the Ferroelectric Domain Structure in BiFeO~3 Thin Films

Huang, Y.T. / Fu, X.L. / Zhao, X.H. / Tang, W.H.

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Titel:

A Review of the Influential Factors on the Ferroelectric Domain Structure in BiFeO~3 Thin Films

Beteiligte:

Huang, Y.T. (Autor:in) / Fu, X.L. (Autor:in) / Zhao, X.H. (Autor:in) / Tang, W.H. (Autor:in) / Bao, Y. / Jiang, D. / Gong, J.

Erschienen in:

Testing and Evaluation of Inorganic Materials III ; 219-225

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 544

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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