Observation of nano-scaled defects in Fe doped Bi2Se3 topological insulator crystal: Fid-Bau Portal

Observation of nano-scaled defects in Fe doped Bi2Se3 topological insulator crystal

Lv, L. / Zhou, D. / Zhang, M. / Yang, L. / Yang, X. / Zhao, Y.

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Titel:

Observation of nano-scaled defects in Fe doped Bi2Se3 topological insulator crystal

Beteiligte:

Lv, L. (Autor:in) / Zhou, D. (Autor:in) / Zhang, M. (Autor:in) / Yang, L. (Autor:in) / Yang, X. (Autor:in) / Zhao, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 99 ; 118-121

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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