Thermoelectric properties and micro-structure characteristics of annealed N-type bismuth telluride thin film: Fid-Bau Portal

Thermoelectric properties and micro-structure characteristics of annealed N-type bismuth telluride thin film

Cai, Z. k. / Fan, P. / Zheng, Z. h. / Liu, P. j. / Chen, T. b. / Cai, X. m. / Luo, J. t. / Liang, G. x. / Zhang, D. p.

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Titel:

Thermoelectric properties and micro-structure characteristics of annealed N-type bismuth telluride thin film

Beteiligte:

Cai, Z. k. (Autor:in) / Fan, P. (Autor:in) / Zheng, Z. h. (Autor:in) / Liu, P. j. (Autor:in) / Chen, T. b. (Autor:in) / Cai, X. m. (Autor:in) / Luo, J. t. (Autor:in) / Liang, G. x. (Autor:in) / Zhang, D. p. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 280 ; 225-228

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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