Gd and Sm on clean semiconductor surfaces-Resonant photoemission studies: Fid-Bau Portal

Gd and Sm on clean semiconductor surfaces-Resonant photoemission studies

Guziewicz, E. / Orlowski, B. A. / Kowalski, B. J. / Kowalik, I. A. / Reszka, A. / Wachnicki, L. / Gieraltowska, S. / Godlewski, M. / Johnson, R. L.

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Guziewicz, E. / Orlowski, B. A. / Kowalski, B. J. / Kowalik, I. A. / Reszka, A. / Wachnicki, L. / Gieraltowska, S. / Godlewski, M. / Johnson, R. L.

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Guziewicz, E. / Orlowski, B. A. / Kowalski, B. J. / Kowalik, I. A. / Reszka, A. / Wachnicki, L. / Gieraltowska, S. / Godlewski, M. / Johnson, R. L.

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Titel:

Gd and Sm on clean semiconductor surfaces-Resonant photoemission studies

Beteiligte:

Guziewicz, E. (Autor:in) / Orlowski, B. A. (Autor:in) / Kowalski, B. J. (Autor:in) / Kowalik, I. A. (Autor:in) / Reszka, A. (Autor:in) / Wachnicki, L. (Autor:in) / Gieraltowska, S. (Autor:in) / Godlewski, M. (Autor:in) / Johnson, R. L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 282 ; 326-334

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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