Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Self-Assembled Nanoparticle Surface Patterning for Improved Digital Image Correlation in a Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Kammers, A. D.
    Neue Suche nach: Daly, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Self-Assembled Nanoparticle Surface Patterning for Improved Digital Image Correlation in a Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Kammers, A. D.
    Neue Suche nach: Daly, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Self-Assembled Nanoparticle Surface Patterning for Improved Digital Image Correlation in a Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Kammers, A. D.
    Neue Suche nach: Daly, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Self-Assembled Nanoparticle Surface Patterning for Improved Digital Image Correlation in a Scanning Electron Microscope

    Beteiligte:

    Kammers, A. D. (Autor:in) / Daly, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    EXPERIMENTAL MECHANICS ; 53 ; 1333-1341

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2013

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0014-4851

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    ERROR ANALYSIS OF DIGITAL SPECKLE CORRELATION METHOD UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

    British Library Online Contents | 2006

    Full-field Thermal Deformation Measurements in a Scanning Electron Microscope by 2D Digital Image Correlation

    Li, N. / Sutton, M. A. / Li, X. et al. | British Library Online Contents | 2008

    Micro-scale deformation measurement using the digital image correlation technique and scanning electron microscope imaging

    Jin, H. / Lu, W.-Y. / Korellis, J. | British Library Online Contents | 2008

    Nano-scale patterning on sulfur terminated GaAs (001) surface by scanning tunneling microscope

    Yagishita, Y. / Toda, Y. / Hirai, M. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Surface patterning nanoparticle-based arrays

    Lu, K. / Hammond, C. / Qian, J. | British Library Online Contents | 2010

    Nach oben