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    Titel:

    How to best measure atomic segregation to grain boundaries by analytical transmission electron microscopy

    Beteiligte:

    Walther, T. (Autor:in) / Hopkinson, M. (Autor:in) / Daneu, N. (Autor:in) / Recnik, A. (Autor:in) / Ohno, Y. (Autor:in) / Inoue, K. (Autor:in) / Yonenaga, I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 49 ; 3898-3908

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    11 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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