Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Impact of Interface Traps on Current-Voltage Characteristics of 4H-SiC Schottky-Barrier Diodes

    Neue Suche nach: Moghadam, H.A.
    Neue Suche nach: Dimitrijev, S.
    Neue Suche nach: Han, J.S.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Impact of Interface Traps on Current-Voltage Characteristics of 4H-SiC Schottky-Barrier Diodes

    Neue Suche nach: Moghadam, H.A.
    Neue Suche nach: Dimitrijev, S.
    Neue Suche nach: Han, J.S.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Impact of Interface Traps on Current-Voltage Characteristics of 4H-SiC Schottky-Barrier Diodes

    Neue Suche nach: Moghadam, H.A.
    Neue Suche nach: Dimitrijev, S.
    Neue Suche nach: Han, J.S.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Impact of Interface Traps on Current-Voltage Characteristics of 4H-SiC Schottky-Barrier Diodes

    Beteiligte:

    Moghadam, H.A. (Autor:in) / Dimitrijev, S. (Autor:in) / Han, J.S. (Autor:in) / Okumura, H. / Harima, H. / Kimoto, T. / Yoshimoto, M. / Watanabe, H. / Hatayama, T. / Matsuura, H.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2013 ; 710-713

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 778/780

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Temperature dependence of current-voltage characteristics of Ag/p-SnS Schottky barrier diodes

    Sahin, M. / Safak, H. / Tugluoglu, N. et al. | British Library Online Contents | 2005

    6H-SiC Schottky Barrier Diodes with Nearly Ideal Breakdown Voltage

    Brezeanu, G. / Badila, M. / Millan, J. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Current-voltage analysis of a-Si:H Schottky diodes

    Sahin, M. / Durmus, H. / Kaplan, R. | British Library Online Contents | 2006

    Analysis of current-voltage characteristics of inhomogeneous Schottky diodes at low temperatures

    Chand, S. / Bala, S. | British Library Online Contents | 2005

    Temperature dependence of current-voltage characteristics of Ag/p-SnSe Schottky diodes

    Tugluoglu, N. / Karadeniz, S. / Sahin, M. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Nach oben