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    Dokumentinformationen
    Titel:

    TEM Observation and Ionic Conductivity Study of Li~2SiO~3 Thin-Film on Sapphire Substrate

    Beteiligte:

    Furusawa, S. (Autor:in) / Tsurui, T. (Autor:in) / Shimizu, K. (Autor:in) / Hosaka, S.

    Erschienen in:

    Advanced Micro-Device Engineering IV ; 15-20

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 596

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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