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A Novel Non-Destructive Evaluation (NDE) Technique Using Coplanar Capacitive Imaging Probes

Yin, X. / Li, W.

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Titel:

A Novel Non-Destructive Evaluation (NDE) Technique Using Coplanar Capacitive Imaging Probes

Beteiligte:

Yin, X. (Autor:in) / Li, W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION ; 42 ; 713-724

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

0090-3973

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620

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