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Miniature Stress Test of Miniature Components Based on Piezoresistive Stress Sensors Test Circuit

Wang, X.D. / Qin, Y.J. / Luo, Y.

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Titel:

Miniature Stress Test of Miniature Components Based on Piezoresistive Stress Sensors Test Circuit

Beteiligte:

Wang, X.D. (Autor:in) / Qin, Y.J. (Autor:in) / Luo, Y. (Autor:in) / Tang, F.

Erschienen in:

MICRO-NANO TECHNOLOGY XV ; 891-897

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 609/610

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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