Exploring Single Semiconductor Nanowires with a Multimodal Hard X-ray Nanoprobe: Fid-Bau Portal

Exploring Single Semiconductor Nanowires with a Multimodal Hard X-ray Nanoprobe

Martnez-Criado, G. / Segura-Ruiz, J. / Aln, B. / Eymery, J. / Rogalev, A. / Tucoulou, R. / Homs, A.

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Titel:

Exploring Single Semiconductor Nanowires with a Multimodal Hard X-ray Nanoprobe

Beteiligte:

Martnez-Criado, G. (Autor:in) / Segura-Ruiz, J. (Autor:in) / Aln, B. (Autor:in) / Eymery, J. (Autor:in) / Rogalev, A. (Autor:in) / Tucoulou, R. (Autor:in) / Homs, A. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 26 ; 7873-7879

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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