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    Titel:

    In situ observation of low temperature growth of Ge on Si(111) by reflection high energy electron diffraction

    Beteiligte:

    Grimm, A. (Autor:in) / Fissel, A. (Autor:in) / Bugiel, E. (Autor:in) / Wietler, T. F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 370 ; 40-48

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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